半導體曲線圖示儀是一種用示波管顯示半導體器件各種特性曲線，并可測量其靜態(tài)參數的測試儀器。與其它同類型圖示儀相比，主要區(qū)別在于采用了微機控制技術，引入了字符顯示，光標測量功能，使半導體管的各種靜態(tài)參數，包括β（hfe）、Gfs(gm) 均可光標測量、數字讀出, 給用戶帶來更多方便。為保證儀器的合理使用，既不損壞被測晶體管，也不損壞儀器內部線路，在使用儀器前應注意下列事項：
1.對被測管的主要直流參數應有一個大概的了解和估計，特別要了解被測管的集電極大允許耗散功率PCM、大允許電流ICM和擊穿電壓BVEBO、BVCBO 。
2.選擇好掃描和階梯信號的極性，以適應不同管型和測試項目的需要。
3.根據所測參數或被測管允許的集電極電壓，選擇合適的掃描電壓范圍。一般情況下，應先將峰值電壓調至零，更改掃描電壓范圍時，也應先將峰值電壓調至零。選擇一定的功耗電阻，測試反向特性時，功耗電阻要選大一些，同時將X、Y偏轉開關置于合適擋位。測試時掃描電壓應從零逐步調節(jié)到需要值。
4.對被測管進行必要的估算，以選擇合適的階梯電流或階梯電壓，一般宜先小一點，再根據需要逐步加大。測試時不應超過被測管的集電極大允許功耗。
5.在進行ICM的測試時，一般采用單簇為宜，以免損壞被測管。
6.在進行IC或ICM的測試中，應根據集電極電壓的實際情況選擇，不應超過本儀器規(guī)定的大電流。
7.進行高壓測試時，應特別注意安全，電壓應從零逐步調節(jié)到需要值。觀察完畢，應及時將峰值電壓調到零。
更新時間：2020-04-23
點擊次數：1978
當前位置：
服務熱線
上海寶山區(qū)滬太路2999弄上海國際研發(fā)總部基地23號3樓東側
zf@zhengfeipower.net